Non-contact atomic force microscopy study of atomic manipulation on insulator surface by nanoindentation
Non-contact atomic force microscopy study of atomic manipulation on insulator surface by nanoindentation
复制标题
纳米压痕对绝缘体表面原子操控的非接触原子力显微镜研究
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Morita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ryuji;Nishi;Daisuke;Miyagawa;Yoshihide;Seino;Insook;Yi;Seize;Morita
