不純物の離散性に伴った半導体デバイスモデリングの基本的側面 -ランダム不純物ばらつきと自己平均化-
不純物の離散性に伴った半導体デバイスモデリングの基本的側面 -ランダム不純物ばらつきと自己平均化-
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与杂质离散性相关的半导体器件建模的基本方面 -随机杂质变化和自平均 -
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐野伸行
中科院分区：
文献类型：
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作者：
橋口 明広;森林 朋也;花田 賢志;大島 孝仁;大石 敏之;輿 公祥;佐々木 公平;倉又 朗人;上田 修;嘉数 誠;佐野伸行
