Progress and Benchmarking of CMOS-Device Technologies
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复制标题
CMOS 器件技术的进展和基准测试
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hitoshi Wakabayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Ohashi;H. Wakabayashi;et. al.;H. Wakabayashi;Hitoshi Wakabayashi
