X-ray irradiation test of MEMS-based X-ray optic
X-ray irradiation test of MEMS-based X-ray optic
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基于MEMS的X射线光学器件的X射线辐照测试
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tomohiro Ogawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Ogawa;et al.;Tomohiro Ogawa
