Quantum gate characterization in an extended Hilbert space
Quantum gate characterization in an extended Hilbert space
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扩展希尔伯特空间中的量子门表征
DOI：
10.1103/physreva.72.032306
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Ralph
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Rohde;G. Pryde;J. O'Brien;T. Ralph
我们描述了一种通过构建包含模式匹配效应的模型来表征光学量子门的方法。然后对模型进行量子过程断层扫描。这些技术可以推广到其他量子计算架构。
We describe an approach for characterizing optical quantum gates, by constructing models which incorporate mode-matching effects. Quantum process tomography is then performed on the model. The techniques can be generalized to other quantum computing architectures.