有機EL素子における実効的な正孔移動度の直接評価－配向分極に由来する電荷蓄積を利用したMIS-CELIV法の適用－
有機EL素子における実効的な正孔移動度の直接評価－配向分極に由来する電荷蓄積を利用したMIS-CELIV法の適用－
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直接评估有机EL器件中的有效空穴迁移率 - 利用定向极化产生的电荷积累的MIS-CELIV方法的应用 -
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮前孝行
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤友哉;片桐千帆;宮前孝行
