Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line

Verification of Prediction Method for Electromigration Failure Using Angled Polycrystalline Line
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利用倾斜多晶线预测电迁移失效方法的验证

DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
Abstracts of Asian Pacific Conference for Fracture and Strength '04
影响因子：
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通讯作者：
M.Saka)
M.Saka)
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S.Uno (M.Hasegawa;K.Sasagawa;M.Saka)

文献摘要

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