Power-constrained test scheduling for RTL datapaths of non-scan BIST schemes
Power-constrained test scheduling for RTL datapaths of non-scan BIST schemes
复制标题
非扫描 BIST 方案 RTL 数据路径的功率受限测试调度
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Z.You;K.Yamaguchi;M.Inoue;J.Savir;H.Fujiwara
