S.M Reddy, K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz: "On Test Data Volume Reduction for Multiple Scan Chain Designs"Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium. 103-108 (2002)
S.M Reddy, K.Miyase, S.Kajihara, I.Pomeranz: "On Test Data Volume Reduction for Multiple Scan Chain Designs"Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium. 103-108 (2002)
复制标题
S.M Reddy、K.Miyase、S.Kajihara、I.Pomeranz：“论多扫描链设计的测试数据量减少”IEEE VLSI 测试研讨会论文集。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
