SiO2 Thickness Dependence of Bandgap Wavelength Shift in Quantum-well Intermixing for Photonic Integration
SiO2 Thickness Dependence of Bandgap Wavelength Shift in Quantum-well Intermixing for Photonic Integration
复制标题
光子集成量子阱混合中带隙波长偏移的 SiO2 厚度依赖性
DOI：
--
复制
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
J. Lee
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Z. Duan;H. T. Tong;M. Liao;T. Cheng;M. Erwan;T. Suzuki;and Y. Ohishi;Yasuhiro Kitamura;小澤一雅;Lei Chen;畠山昂，間瀬憲一，中野敬介，柄沢直之;渡邊翔太，李 美龍，成田 吉弘;佐藤英毅，加納剛史，青沼仁志，松坂義哉，石黒章夫;J. Lee
