透過型電子顕微鏡を用いた三相界線ピニングのナノスケール観察
透過型電子顕微鏡を用いた三相界線ピニングのナノスケール観察
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使用透射电子显微镜对三相场线钉扎进行纳米级观察
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高橋厚史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
廣川颯汰;手嶋秀彰;Pablo Solis Fernandez;吾郷弘樹;李秦宜;高橋厚史
