Amorphous SiO2/SiC interface defect structure generated with first-principle molecular dynamics simulation
Amorphous SiO2/SiC interface defect structure generated with first-principle molecular dynamics simulation
复制标题
第一原理分子动力学模拟生成非晶SiO2/SiC界面缺陷结构
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Yoshikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.Miyashita;T.Ohnuma;M.Iwasawa;H.Tsuchida;M.Yoshikawa
