利用KFM技术研究纳米尺度下n-AlGaN/GaN薄膜的表面电荷性质

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DOI:
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发表时间:
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期刊:
高等学校化学学报
影响因子:
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通讯作者:
谢腾峰
谢腾峰
中科院分区:
其他
文献类型:
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作者:
王凌凌;杨文胜;王德军;谢腾峰

文献摘要

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