Electrostatic force spectroscopy on semiconductor surfaces using 2nd flexural mode of cantilever oscillation
Electrostatic force spectroscopy on semiconductor surfaces using 2nd flexural mode of cantilever oscillation
复制标题
使用悬臂振荡第二弯曲模式的半导体表面静电力谱
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Y.Sugawara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y.Naitoh;Y.Kinoshita;Y.-J.Li;Y.Sugawara
