Correlation between Electronic Structures and Instabilities in Amorphous Oxide Semiconductors
Correlation between Electronic Structures and Instabilities in Amorphous Oxide Semiconductors
复制标题
非晶氧化物半导体中电子结构与不稳定性之间的相关性
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideo Hosono
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Junghwan Kim;Toshio Kamiya;Hideo Hosono
