Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults

Pattern Partitioning based Field Testing for Improving the Detection Latency of Aging-induced Delay Faults
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基于模式划分的现场测试，提高老化引起的延迟故障的检测延迟

DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications
影响因子：
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通讯作者：
H. Takahashi
H. Takahashi
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
H.T. Al-Awadhi;S. Wang;Y. Higami;H. Takahashi

文献摘要

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