M.Yasuda, T.Saiki and T.Sumomogi: "Correction of surface roughness in nano-scale measurements with scanning probe microscope" Mem.Hiroshima-Denki Inst.& Hiroshima Jun.Col.Auto.Enji.30. 47 (1997)
M.Yasuda, T.Saiki and T.Sumomogi: "Correction of surface roughness in nano-scale measurements with scanning probe microscope" Mem.Hiroshima-Denki Inst.& Hiroshima Jun.Col.Auto.Enji.30. 47 (1997)
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M.Yasuda、T.Saiki 和 T.Sumomogi：“使用扫描探针显微镜校正纳米级测量中的表面粗糙度”Mem.Hiroshima-Denki Inst。
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