Single-Atomic-Level Probe of Transient Carrier Dynamics by Laser-Combined Scanning Tunneling Microscopy
Single-Atomic-Level Probe of Transient Carrier Dynamics by Laser-Combined Scanning Tunneling Microscopy
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利用激光组合扫描隧道显微镜对瞬态载流子动力学进行单原子级探测
DOI：
10.7567/apex.6.032401
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发表时间：
2013
影响因子：
2.3
通讯作者：
S. Yoshida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
C.Wang;Y.Sato;S.Miura;S.Nishizawa;N.Teramae;篠原久典;小嶋拓也;Ishikawa Noboru;S. Yoshida
