基于STM32的多通道探头阵列低频电磁检测系统研究
基于STM32的多通道探头阵列低频电磁检测系统研究
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DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
白石
中科院分区：
文献类型：
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作者：
黄平;杨理践;高松巍;白石
针对多通道探头阵列低频电磁检测系统的研究，阐述了低频电磁技术检测机理和组成结构，提出采用多通道感应式磁传感器检测线圈阵列作为缺陷信号有效拾取介质，并基于STM32控制器完成多通道阵列励磁探头、激励电路、信号调理采样电路及存储读取一体化电路模块的系统化设计。实验结果表明，该系统运行稳定，可有效规避外部杂散磁场干扰，并实时输出当前检测位置缺陷信息（幅值、相位），为低频电磁无损检测技术的进一步发展提供了优良的实验基础。