An all-optic UHV atomic force microscopy for chemical identification working in lateral mode
An all-optic UHV atomic force microscopy for chemical identification working in lateral mode
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用于横向模式化学识别的全光学 UHV 原子力显微镜
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Denis Damiron;Yohei Toriyama;Mohammad Othman;Pierre Allain;他
