Characterization of EFG-grown β-Ga2O3 single crystal by using Synchrotron X-ray topography, X-ray diffraction and Raman
Characterization of EFG-grown β-Ga2O3 single crystal by using Synchrotron X-ray topography, X-ray diffraction and Raman
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使用同步加速器 X 射线形貌、X 射线衍射和拉曼表征 EFG 生长的 β-Ga2O3 单晶
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
姚永昭
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. N. K. Phan;K. Kato;K. Takano;M. Yoshimura;H. Azechi;M. Nakajima;姚永昭
