Development of a 45° tilted on-machine measuring system for small optical parts
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DOI：
10.1016/j.cirp.2008.03.041
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发表时间：
2008
影响因子：
4.1
通讯作者：
H. Suzuki;T. Onishi;T. Moriwaki;M. Fukuta;J. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Suzuki;T. Onishi;T. Moriwaki;M. Fukuta;J. Sugawara
