薄型半導体検出器を用いたX線ビームプロファイル測定によるCTDI の評価
薄型半導体検出器を用いたX線ビームプロファイル測定によるCTDI の評価
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通过使用薄半导体探测器测量 X 射线束轮廓来评估 CTDI
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
栗山 和,藤田元春
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤 斉;小松崎哲也;高田麻里子;栗山 和,藤田元春
