In-Situ STEM Observation of Tribology and Electrical Measurement on Ru and Ruo2 Nano Contact for Probe-based Data Storage

In-Situ STEM Observation of Tribology and Electrical Measurement on Ru and Ruo2 Nano Contact for Probe-based Data Storage
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基于探针数据存储的 Ru 和 Ruo2 纳米接触摩擦学和电学测量的原位 STEM 观察

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
L. Jalabert and H. Fujita
L. Jalabert and H. Fujita
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
S. Nabeya;T. Akao;Y. Takayama;T. Sato;L. Jalabert and H. Fujita

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