Thin Film Permeability Evalluation Based on Skin Effect Using Meander-Type Probe Up to 10.6 GHz
Thin Film Permeability Evalluation Based on Skin Effect Using Meander-Type Probe Up to 10.6 GHz
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使用频率高达 10.6 GHz 的曲折型探头进行基于集肤效应的薄膜磁导率评估
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Munakata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Yabukami,A.Sato;M.Munakata
