Atomic-scale imaging of electronic properties of the surface by electrostatic force microscopy
Atomic-scale imaging of electronic properties of the surface by electrostatic force microscopy
复制标题
通过静电力显微镜对表面电子特性进行原子尺度成像
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. J. Li and Y. Sugawara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. F. Wen;M. Suesada;Y. Naitoh;Y. J. Li and Y. Sugawara
