大気中分子－ZnOナノワイヤ/Pt界面間相互作用の解明に基づく デバイス特性の高信頼化
大気中分子－ZnOナノワイヤ/Pt界面間相互作用の解明に基づく デバイス特性の高信頼化
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基于大气分子与 ZnO 纳米线/Pt 界面之间相互作用的阐明，提高器件特性的可靠性
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村健太郎，高橋綱己，金井真樹，Z.Guozhu，細見拓郎，長島一樹，柳田剛
中科院分区：
文献类型：
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作者：
知名史博;藪野正裕;三木茂人;寺井弘高;清水亮介;中村健太郎，高橋綱己，金井真樹，Z.Guozhu，細見拓郎，長島一樹，柳田剛
