詐欺脆弱性測定の現状と今後の展開
詐欺脆弱性測定の現状と今後の展開
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欺诈漏洞测量的现状及未来发展
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
大工泰裕
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Daiku;Y.;Levine;T. R.;Serota;K. B;渡部諭・澁谷泰秀・小久保温・上野大介・大工 泰裕・森 俊明;澁谷泰秀・吉野諒三・渡部諭・角谷快彦・藤田卓仙・小出哲彰・田中康裕・大工泰裕;大工泰裕
