Feedback and Inflation Mechanism in Successive Multiphonon Carrier Captures at Deep-level Defects
Feedback and Inflation Mechanism in Successive Multiphonon Carrier Captures at Deep-level Defects
复制标题
深层缺陷连续多声子载流子捕获中的反馈和膨胀机制
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Wakita and Y. Shinozuka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Suzuki;M. Wakita and Y. Shinozuka
