ノイズ計測によるペンタセン薄膜中のキャリアの寿命の評価
ノイズ計測によるペンタセン薄膜中のキャリアの寿命の評価
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通过噪声测量评估并五苯薄膜中的载流子寿命
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
夛田博一
中科院分区：
文献类型：
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作者：
原田佑介;東康男;山田亮;夛田博一
