M.Yonemura: "Fringe Visibility and Information Quantity in Electronic Speckle Pattern Interferometry." Applied Optics. (1990)
M.Yonemura: "Fringe Visibility and Information Quantity in Electronic Speckle Pattern Interferometry." Applied Optics. (1990)
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M.Yonemura：“电子散斑干涉测量中的条纹可见性和信息量。”
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