Analogous Tainter- Gate Failures in Japan and USA
Analogous Tainter- Gate Failures in Japan and USA
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日本和美国的类似 Tainter-Gate 故障
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
C.W.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ishii;N.;Anami;K.;Oku;T.;Makihata;T.;Knisely;C.W.
