M.Yonemura: "Nonーdestructive testing by electronic speckle pattern interferometry" Applied Optics. (1991)
M.Yonemura: "Nonーdestructive testing by electronic speckle pattern interferometry" Applied Optics. (1991)
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M.Yonemura：“电子散斑干涉测量法的无损检测”应用光学 (1991)。
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