Mechanism of Defect Reactions in Semiconductors in "Reliability and Materials Issues of Optical Devices"(Ed.by O.Ueda and S.Pearton)
Mechanism of Defect Reactions in Semiconductors in "Reliability and Materials Issues of Optical Devices"(Ed.by O.Ueda and S.Pearton)
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“光学器件的可靠性和材料问题”中的半导体缺陷反应机制（O.Ueda 和 S.Pearton 编）
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Shinozuka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takashi Noji;Masao Imaizumi;Tadashi Adachi;Yoji Koike;Y.Shinozuka
