Analysis of Delay Time Degradation of Ultra-Low Supply Voltage CMOS Circuit Operating in Subthreshold Region
Analysis of Delay Time Degradation of Ultra-Low Supply Voltage CMOS Circuit Operating in Subthreshold Region
复制标题
亚阈值区超低电源电压CMOS电路延迟时间劣化分析
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Toshiro Hiramoto
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Seung-Min Jung;Takuya Saraya;Masaharu Kobayashi;and Toshiro Hiramoto
