An inverse estimation scheme to measure steady-state tool–chip interface temperatures using an infrared camera
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DOI：
10.1016/s0890-6955(00)00113-9
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发表时间：
2001-05
影响因子：
14
通讯作者：
P. Kwon;T. Schiemann;R. Kountanya
中科院分区：
文献类型：
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作者：
P. Kwon;T. Schiemann;R. Kountanya
