Measurement of Thin Film Coating on Superconductors

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超导体薄膜涂层的测量

DOI:
10.18429/jacow-ipac2017-mopva076
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发表时间:
2017
期刊:
Proceedings of the 8th International Particle Accelerator Conference
影响因子:
--
通讯作者:
H. Oikawa
H. Oikawa
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Y. Iwashita;Y. Fuwa;H. Tongu;H. Hayano;T. Kubo;T. Saeki; M. Hino;H. Oikawa

文献摘要

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