K.Kaminishi: "Numerical analysis of fatigue crack growth in Pb-free microelectronics solder joints"Proc. European Congress on Computational Methods in Applied Sciences. (CD-ROM). (2000)
K.Kaminishi: "Numerical analysis of fatigue crack growth in Pb-free microelectronics solder joints"Proc. European Congress on Computational Methods in Applied Sciences. (CD-ROM). (2000)
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K.Kaminishi：“无铅微电子焊点疲劳裂纹扩展的数值分析”Proc。
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