Bi2Se3薄膜のin situ微細加工と4探針測定によるスピンホール効果検出の試み
Bi2Se3薄膜のin situ微細加工と4探針測定によるスピンホール効果検出の試み
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Bi2Se3薄膜原位微加工及四探针测量检测自旋霍尔效应的尝试
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷川修司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
福居直哉;平原徹;長谷川修司
