Bit-flip errors detection using random partial don't-care keys for a soft-error-tolerant TCAM
Bit-flip errors detection using random partial don't-care keys for a soft-error-tolerant TCAM
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使用随机部分无关密钥进行位翻转错误检测以实现软容错 TCAM
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and X. Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
I. Syafalni;T. Sasao;and X. Wen
