スマートデバイスからの電磁的情報漏えいの評価に関する検討
スマートデバイスからの電磁的情報漏えいの評価に関する検討
复制标题
智能设备电磁信息泄漏评估研究
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮田 大輔
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上野嶺;本間尚文;青木孝文;宮田 大輔
