レーザ光弾性法による電子デバイスの応力評価
レーザ光弾性法による電子デバイスの応力評価
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利用激光光弹性法评估电子器件的应力
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
五味健二
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Teramura;K.Maeda;T.Saito;T.Takata;N.Saito;Y.Inoue;K.Domen;五味健二;五味健二
