S.Muto, H.Sugiyama, T.Kimura, T.Tanabe: "Structure of an Oxygen-Related Defect Complex in SiC Studied with Electron Energy-Loss Spectroscopy"Japanese Journal of Applied Physics. 43(3)(in press). (2004)
S.Muto, H.Sugiyama, T.Kimura, T.Tanabe: "Structure of an Oxygen-Related Defect Complex in SiC Studied with Electron Energy-Loss Spectroscopy"Japanese Journal of Applied Physics. 43(3)(in press). (2004)
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S.Muto、H.Sugiyama、T.Kimura、T.Tanabe：“用电子能量损失光谱研究碳化硅中与氧相关的缺陷复合体的结构”日本应用物理学杂志。
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