Determination of lattice parameters of SiGe/Si(110) heterostructures

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SiGe/Si(110)异质结构晶格参数的测定

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Thin Solid Films 508
影响因子:
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通讯作者:
N.Usami
N.Usami
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
K.Arimoto;J.Yamanaka;K.Nakagawa;K.Sawano;Y.Shiraki;S.Koh;N.Usami

文献摘要

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