Development of compact multiple scanning probe force microscope for electrical measurement of neuromorphic nanodevice
Development of compact multiple scanning probe force microscope for electrical measurement of neuromorphic nanodevice
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开发用于神经形态纳米器件电学测量的紧凑型多扫描探针力显微镜
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中山知信
中科院分区：
文献类型：
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作者：
新ヶ谷義隆;Xu Jianxun;中山知信
