RHEED強度計測によるキャップ層埋め込みInAs量子ドットの特性評価
RHEED強度計測によるキャップ層埋め込みInAs量子ドットの特性評価
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通过 RHEED 强度测量评估嵌入盖层的 InAs 量子点的特性
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
尾崎 信彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
生野 大吾;尾崎 信彦
