Measuring Birefringence Homogeneity in High-Quality Optical Substrates
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复制标题
测量高质量光学基板的双折射均匀性
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Simon Zeidler
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Victor Hui;Christophe Dubarry and Raffaele Flaminio;Raffaele Flaminio;Matteo Leonardi;Raffaele Flaminio;Simon Zeidler
