陽電子マイクロビームを用いたイオン照射空孔分布挙動評価

陽電子マイクロビームを用いたイオン照射空孔分布挙動評価
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使用正电子微束的离子辐照空位分布行为评估

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期刊:
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通讯作者:
河裾厚男
河裾厚男
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
前川雅樹;河裾厚男

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