On the characterization of flat metrics by the spectrum
On the characterization of flat metrics by the spectrum
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用频谱表征平坦度量
DOI：
10.1007/bf02566698
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发表时间：
1980
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Ruishi Kuwabara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ruishi Kuwabara
