LSI Testing: A Core Technology to A Successful LSI Industry
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LSI 测试：LSI 行业成功的核心技术
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X. Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Asano Yasuhito;Cao Yang;Hidaka Soichiro;Hu Zhenjiang;Ishihara Yasunori;Kato Hiroyuki;Nakano Keisuke;Onizuka Makoto;Sasaki Yuya;Shimizu Toshiyuki;Takeichi Masato;Xiao Chuan;Yoshikawa Masatoshi;西川 浩樹;X. Wen
